年度101
等級SCI
論文名稱A new process capability analysis chart approach on the chip resistor quality management
全部作者Ouyang, Liang-Yuh; Hsu, Chang-Hsien; Yang, Chun-Ming
卷數Journal of Engineering Manufacture 227(7), pp.1075-1082
ISSN(ISBN)0954-4054
使用語言英文
備註期刊論文